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VMP9000 - 窄脉冲晶圆量产测试系统
VMP9000系列VCSEL窄脉冲晶圆量产测试设备,是专为VCSEL激光雷达应用而设计的窄脉冲驱动的晶圆量产测试设备。该系列设备配置了自研驱动,可以在晶圆级提供小于100ns、大于35A的驱动,实现LIV、近场及远场测试能力。VMP9000-A可灵活集成全自动上下料,助力客户在量产中兼顾精度与效率。
VMP9000  - 窄脉冲晶圆量产测试系统
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SPMT9000-半自动封装体测试系统
针对半自动VCSEL封装体窄脉冲性能测试的要求,柯泰自主研发了本测试系统。通过提供稳定可靠的自动运动平台,结合不同的物料形式以实现封装尺寸产品的测试,可适配各种光电检测组合的测试方案,包括:实现在窄脉冲驱动方式下的LIV测试(电流、电压、光功率时域波形测试),远场性能测试,并实现对产品内部齐纳二极管的电性能测试等功能。
SPMT9000-半自动封装体测试系统
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SPT5000 - 手动多站式VCSEL模组性能测试系统
柯泰的多站式VCSEL模组性能测试系统SPT5000是一款高精度测试平台,精准适配实验室环境的性能验证应用场景,在研发、生产、质量控制等环节具有广泛的应用。该系统支持手动加载和操作,能够对VCSEL模组的电学、光学进行全面测试,包括LIV特性、光谱、近场光学特性、远场光学特性等关键参数,可以作为 VCSEL 模组的综合性能评测机构。
SPT5000 - 手动多站式VCSEL模组性能测试系统
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SPMT7000 - 全自动封装体测试系统
柯泰研发的自动VCSEL封装体光电性能检测系统,采用模块化设计,由蓝膜上料模组、LIV性能测试模组、FF性能测试模组、蓝膜下料模组、驱动及控制软件等构成。该系统具备快速自动综合检测能力,涵盖客户所需要的光电性能检测模块,匹配量产自动化所需要的效率组件和数据管理,实现VCSEL的批量测试,测试速度快、检测精度高、适应性强,适配于各种光电检测组合的测试方案。
SPMT7000 - 全自动封装体测试系统
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VMP8000-高频晶圆量产测试系统
专为高频芯片设计,VMP8000系列支持6吋激光器、探测器和射频器件晶圆测试。凭借高精度测量与高速稳定的性能,本系统拥有兼顾带宽(包括O-E/E-O/E-E)、眼图、RIN等动态参数,与LIV、光谱测量等静态参数的完整测试能力。 借助柯泰光芯自研半自动高速探针台的系统能力,VMP8000还适用于量产阶段CP测试等高效率场景。
VMP8000-高频晶圆量产测试系统
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DMP7000/DMP7000-B - PD/APD晶圆量产台
柯泰光芯自主研发的正照/背照式APD晶圆性能测试系统DMP7000,该系统由自动探针台模组、光纤耦合模组、测试模组、特制探针座模组、驱动及控制软件等组成,可以作为裸芯片的综合性能评测机构,该系统具备快速半自动综合检测能力,测试速度快,完全符合小批量实验室测试应用,检测精度高,适应性强。
DMP7000/DMP7000-B  - PD/APD晶圆量产台
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VMP6000 - 晶圆级半导体参数测试系统
以IV和CV测试为代表的半导体器件电性能参数测试贯穿整个产业链流程。其中,在晶圆量产CP阶段,企业会特别关注测试成本、测试效率和测试结果的一致性。VMP6000系列是柯泰光芯基于深度垂直应用理念,专为半导体器件的晶圆级电性能参数测试而开发的半自动探针台系统。
VMP6000 - 晶圆级半导体参数测试系统
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探针座定制
柯泰光芯可提供各类探针座定制,定位精确、扎针稳定,确保测试结果的可靠性,种类包括但不限于:射频探针座、光纤耦合座、直流探针座。
探针座定制
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ART OF INSTRUMENTATION
关于我们
位于常州的柯泰光芯(常州)测试技术有限公司成立于2019年,专注于光电半导体器件测试装备的研发、生产、销售和服务,致力于帮助用户加速完成从研发测试出样、小批量测试到大规模量产测试的链路建设,为用户提供多元化的测试产品和解决方案。
如今,不断成长的柯泰光芯已成为国内较为完备的光电半导体测试设备和服务提供商,为光电半导体器件的生产流程解决测试设备“卡脖子”问题,也成为国内多家头部激光雷达企业在测试领域的合作伙伴...
2019
公司成立于2019年
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