产品推介 | VMP6000 IV/CV 测试系统,为PD晶圆量产守住电学关口
2026-09-07
每一颗PD从晶圆走向光模块前,都必须闯过IV/CV电学测试这一关。面对高速PD日趋严苛的暗电流、结电容、击穿电压要求,传统测试方案在精度与效率上的短板被持续放大——测不准、测不快、测不全,已成为制约产线产能的重要因素。VMP6000 晶圆级半导体参数测试系统,正是面向PD的IV/CV电学测试而设计。该测试系统已实现标准化量产,在多家头部厂商已完成批量部署与验证,性能稳定,交付即用。
LEARN more