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VCSEL(垂直腔面发射激光器)广泛应用于3D传感、消费电子、激光雷达与短距光互联等领域。从晶圆量产到封装体再到应用端,VCSEL的测试需求横跨三大场景:面向光通信的高频动态参数(带宽、眼图、RIN等)测试、CW/QCW驱动下的LIV与光学特性评估,以及面向激光雷达多结高功率VCSEL的窄脉冲量产测试。
手动探针台测试系统C3
C3手动探针台测试系统适用于少量样品测试或研发阶段小规模高精度测试的场景。基于灵活的模块,该系列可以在高性价比的前提下,为您的应用场景定制测试装备。 通过不同的选件以及测试仪表,可以为您实现各类复杂多变的晶圆测试目标,为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,并具备良好的可扩展特性。
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半自动探针台测试系统C5
C5探针台测试系统包含了现代探针台系统所需要的大多数功能,和全自动系统的区别仅为上下料方式。因此C5系统能满足大多数研发场景和小批量生产场景的需求。
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全自动探针台测试系统C7
C7在半自动探针台系统的基础上,加入了更加适合大批量生产的自动上下料装置,从而为高效、可靠的量产测试提供了全面的自动测试解决方案。
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可选功能项
得益于柯泰公司对探针台系统设计、生产与迭代的完全自主可控,柯泰出品的各种探针台测试系统的组成方式可以非常灵活。用户在购买时可根据自己当前的应用需要选择合适的功能组件,亦可在购买以后的必要时机追加购买升级选件或者更换选项,从而保证测试设备的功能性能能紧随技术进步,保护投资。
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产品新闻
09-20
2026
以测为桥,共赴新程 | 柯泰光芯携手华中科技大学共建先进光电芯片测试联合实验室
9月19日,华中科技大学光学与电子信息学院—柯泰光芯(常州)测试技术有限公司先进光电芯片测试联合实验室揭牌仪式暨政产学研合作研讨会在华中科技大学光电大楼举行。
09-07
2026
产品推介 | VMP6000 IV/CV 测试系统,为PD晶圆量产守住电学关口
每一颗PD从晶圆走向光模块前,都必须闯过IV/CV电学测试这一关。面对高速PD日趋严苛的暗电流、结电容、击穿电压要求,传统测试方案在精度与效率上的短板被持续放大——测不准、测不快、测不全,已成为制约产线产能的重要因素。VMP6000 晶圆级半导体参数测试系统,正是面向PD的IV/CV电学测试而设计。该测试系统已实现标准化量产,在多家头部厂商已完成批量部署与验证,性能稳定,交付即用。
09-14
2026
柯泰光芯CIOE 2026圆满收官:以全场景测试方案回应AI算力时代
追光而至,聚力前行。9月11日,第27届中国国际光电博览会(CIOE 2026)在深圳国际会展中心圆满落下帷幕。
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