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测试装备交付只是合作的起点。柯泰光芯致力于让设备持续保持最佳工作状态--从教学到量产从单机到整线,从软件到耗材,只要与"光电测试"相关的需求,都能在这里找到解决方案。
探针座定制
柯泰光芯可提供各类探针座定制,定位精确、扎针稳定,确保测试结果的可靠性,种类包括但不限于:射频探针座、光纤耦合座、直流探针座。
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探卡定制
柯泰光芯提供专业探卡定制服务,覆盖从研发到大规模生产的全流程,具有高精度、高效率及高可靠性等特点。可定制种类包括窄脉冲针卡、CW/QCW针卡以及其他定制针卡。
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模组测试治具定制
根据您芯片的具体情况,柯泰光芯提供适用于TO、COB、COC、COS等不同封装测试的治具。针对芯片或封装后的器件进行可靠性验证,柯泰光芯也可进行老化板封装定制。
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电路及嵌入式设计
低漏电端口切换电路:可程控的端口切换并实现低漏电;多通道光源控制器:可程控的多通道光源控制;触发信号转换器:分路输出触发信号。
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温控系统设计
高低温控制器:实现高低温控制;半导体器件加热器:小体积的半导体器件温控装置。
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连接和转接
SMU三同轴接口扩展器;电压衰减器。
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光源器件教学实验系统SPT-EDU
柯泰将光电行业标准的光源测试方法归纳简化后,设计出一套适合高职和高校光电专业学生实验的测试系统SPT-EDU:以可以接受的成本,让学生学习和操作贴近产业实践的测试方法。该系统基础版可演练LIV特性,可探究阈值电流、工作电流、工作电压等基本工作参数;还可以扩展覆盖光谱、近场光学特性、远场光学特性等关键参数。授课老师可以通过这些实验,激发学生们对各种参数的影响因素进行思考和延展。该实验系统亦可在一定指标内支持高校老师的科研测试,从而达到一机多用的效果。
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定制老化和测试系统DAM9000
DAM9000是一款用于模拟极端使用条件来加速半导体器件的老化过程,并检测其潜在失效的测试机台。老化柜主机带有18个舱位,每个舱位可支持16pcs芯片同时老化,整机最高可支持288pcs芯片同时老化,可多任务并行。该设备能够精准模拟半导体激光器的工作状态,支持上位机远程控制和监测数据,为激光器的性能评估、寿命测试及质量控制提供可靠数据支持。
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产品新闻
09-07
2026
产品推介 | VMP6000 IV/CV 测试系统,为PD晶圆量产守住电学关口
每一颗PD从晶圆走向光模块前,都必须闯过IV/CV电学测试这一关。面对高速PD日趋严苛的暗电流、结电容、击穿电压要求,传统测试方案在精度与效率上的短板被持续放大——测不准、测不快、测不全,已成为制约产线产能的重要因素。VMP6000 晶圆级半导体参数测试系统,正是面向PD的IV/CV电学测试而设计。该测试系统已实现标准化量产,在多家头部厂商已完成批量部署与验证,性能稳定,交付即用。
09-14
2026
柯泰光芯CIOE 2026圆满收官:以全场景测试方案回应AI算力时代
追光而至,聚力前行。9月11日,第27届中国国际光电博览会(CIOE 2026)在深圳国际会展中心圆满落下帷幕。
09-07
2026
重磅新品 | SMP7000正式登场:硅光与薄膜铌酸锂芯片耦合测试的国产新选择
柯泰光芯正式发布 SMP7000 SiPh/TFLN芯片耦合测试系统,为SiPh与TFLN芯片的耦合测试提供国产高端测试装备新选择。设备支持全链路光电协同测试,支持光-光、光-电、电-光多类型参数检测,涵盖DC/AC测试、FAU/Lens Fiber 端面或垂直耦合测试等核心项目,能精准测量耦合效率、波导损耗、调制器消光比以及PD响应度、暗电流等关键指标。
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