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定制老化和测试系统DAM9000
DAM9000是一款用于模拟极端使用条件来加速半导体器件的老化过程,并检测其潜在失效的测试机台。老化柜主机带有18个舱位,每个舱位可支持16pcs芯片同时老化,整机最高可支持288pcs芯片同时老化,可多任务并行。该设备能够精准模拟半导体激光器的工作状态,支持上位机远程控制和监测数据,为激光器的性能评估、寿命测试及质量控制提供可靠数据支持。
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