光电探测器（PD、APD、SPAD）作为光信号接收端，其性能直接影响 3D 传感、激光雷达的探测灵敏度以及高速光通信系统的误码率。相较于发光器件，探测器测试对微弱噪声电流测量、高偏置电压条件下的暗电流检测，以及响应度、增益参数的稳定采集有着更高要求。
依托柯泰光芯自研半自动探针台平台，本套测试系统可对 PD、APD、SPAD 等各类光电探测器开展全参数性能检测，满足高效量产测试需求。现有机型： DMP7000正照式测试系统与 DMP7000‑B背照式测试系统。
