AI加速度，PD大放量。

每一颗PD从晶圆走向光模块前，都必须闯过IV/CV电学测试这一关。面对高速PD日趋严苛的暗电流、结电容、击穿电压要求，传统测试方案在精度与效率上的短板被持续放大——测不准、测不快、测不全，已成为制约产线产能的重要因素。

VMP6000 晶圆级半导体参数测试系统，正是面向PD的IV/CV电学测试而设计。该测试系统已实现标准化量产，在多家头部厂商已完成批量部署与验证，性能稳定，交付即用。

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自研切换模块/

支持IV和CV的自动切换测试


VMP6000搭载柯泰光芯自主研发的IV/CV切换模块，探针接触一次即可完成PD的IV和CV测试，无需多次扎针，大幅提升测试效率，避免被测件针痕过大。

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多 site 高精度 IV测试/

并行不降精度


支持多 site 并行 IV 测试，直流/脉冲双驱动，配合低漏电卡盘与三同轴屏蔽探接，确保多site并行测量中数据的准确性与一致性，PD暗电流/正向电压等测试稳定可信。

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多site CV测试/

宽频覆盖，结电容一测即得

CV 测试可覆盖 20Hz~5GHz 宽频段，且柯泰光芯与仪器厂商共同研发了CV多 site 并行测试技术，攻克了数字电桥并行测试的串扰问题，大幅提升CV测试UPH。

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一台多用/

覆盖PD、VCSEL、HBT等多类器件

除PD之外，VMP6000 单台亦兼容 VCSEL（含 2D VCSEL）、HBT 等多类器件。柯泰光芯的测试软件提供极其灵活的配置界面，支持多site、通道切换、subdie等各种类型的并行与串行测试。研发导入新器件无需更换平台，量产阶段可一机覆盖多产品线 CP 测试，为光电半导体企业提供高灵活、高通用的一体化测试底座。

测不准、测不快、测不全——VMP6000给这三个问题，提供了一个经过产线验证的答案。

该测试系统已实现标准化量产，如需了解更多产品信息，欢迎联系我们：

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