CN
EN
首页
产品中心
VCSEL测试解决方案
PD/APD测试解决方案
通用半导体测试解决方案
更多支持
VCSEL动态测试系统
VMP5000-手动探针台测试系统
VMP8000-高频晶圆量产测试系统
VCSEL静态测试系统
VMP3000-手动探针台测试系统
VMP7000 - VCSEL晶圆量产测试系统
SPT5000 - 手动多站式VCSEL模组性能测试系统
SPMT7000 - 全自动封装体测试系统
激光雷达VCSEL测试系统
VMP9000 - 窄脉冲晶圆量产测试系统
SPMT9000-半自动封装体测试系统
APS9000-VCSEL窄脉冲板级测试系统
PD静态测试系统
DMP7000/DMP7000-B - PD/APD晶圆量产台
PD动态测试系统
VMP8000 - 高频晶圆量产测试系统
通用半导体测试解决方案
VMP6000 - 晶圆级半导体参数测试系统
测试配件
探针座定制
探卡定制
模组测试治具定制
电路及嵌入式设计
温控系统设计
连接和转接
测试服务
应用领域
激光雷达核心器件
光通信核心器件
光电器件封装测试
材料和器件电参数测试
教学实验
技术支持
常见问题
资料下载
柯泰学院
新闻中心
行业资讯
公司动态
关于我们
公司简介
加入我们
联系我们
首页
产品中心
VCSEL测试解决方案
PD/APD测试解决方案
通用半导体测试解决方案
更多支持
应用领域
激光雷达核心器件
光通信核心器件
光电器件封装测试
材料和器件电参数测试
教学实验
技术支持
常见问题
资料下载
柯泰学院
新闻中心
行业资讯
公司动态
关于我们
公司简介
加入我们
联系我们
首页
产品中心
VCSEL测试解决方案
PD/APD测试解决方案
通用半导体测试解决方案
更多支持
应用领域
激光雷达核心器件
光通信核心器件
光电器件封装测试
材料和器件电参数测试
教学实验
技术支持
常见问题
资料下载
柯泰学院
新闻中心
行业资讯
公司动态
关于我们
公司简介
加入我们
联系我们
PRODUCTS
激光雷达VCSEL测试系统
VCSEL动态测试系统
VCSEL静态测试系统
激光雷达VCSEL测试系统
首页
>
产品中心
>
VCSEL测试解决方案
>
激光雷达VCSEL测试系统
>
|
SPMT9000-半自动封装体测试系统
针对半自动VCSEL封装体窄脉冲性能测试的要求,柯泰自主研发了本测试系统。通过提供稳定可靠的自动运动平台,结合不同的物料形式以实现封装尺寸产品的测试,可适配各种光电检测组合的测试方案,包括:实现在窄脉冲驱动方式下的LIV测试(电流、电压、光功率时域波形测试),远场性能测试,并实现对产品内部齐纳二极管的电性能测试等功能。
应用领域
规格
资料下载
应用领域:
- VCSEL模组量产测试
- VCSEL模组来料检测
资料索取
首页
产品中心
VCSEL测试解决方案
PD/APD测试解决方案
通用半导体测试解决方案
更多支持
应用领域
激光雷达核心器件
光通信核心器件
光电器件封装测试
材料和器件电参数测试
教学实验
技术支持
常见问题
资料下载
柯泰学院
新闻中心
行业资讯
公司动态
关于我们
公司简介
加入我们
联系我们
Copyright © 柯泰光芯(常州)测试技术有限公司 版权所有