产品中心 - 柯泰光芯测试技术 vcsel测试解决方案

激光器晶圆测试系统C8

C8激光器测试系统是基于C5半自动探针台平台，针对目前广泛用于光通信、距离传感和3D传感的VCSEL器件量产测试需求设计生产的专用测试系统。柯泰测试和多家头部企业进行了深入的讨论交流，结合产业界需求和自身知识经验，推出了指标领先的C8系列，可以满足多种应用场景中不同VCSEL晶圆的测试要求，这些要求包括在各种驱动(直流、微秒或纳秒级脉冲)条件下的LIV、光谱、近场光学特性、远场光学特性等参数。C8系统有三个应用配置已量产，若需详细信息请联系柯泰工作人员索取单页资料。

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探测器晶圆测试系统C9

C9探测器晶圆测试系统是基于C5半自动探针台平台，针对各种类型的PD、APD和SPAD等光电探测器测试做了特殊的优化，从而实现高效量产测试。C9系统有两个应用配置已量产，若需详细信息请联系柯泰工作人员索取单页资料。

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手动多站式VCSEL模组性能测试系统SPT5000

柯泰的多站式VCSEL模组性能测试系统SPT5000是一款高精度测试平台，精准适配实验室环境的性能验证应用场景，在研发、生产、质量控制等环节具有广泛的应用。该系统支持手动加载和操作，能够对VCSEL模组的电学、光学进行全面测试，包括LIV特性、光谱、近场光学特性、远场光学特性等关键参数，可以作为 VCSEL 模组的综合性能评测机构。

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半自动封装体测试系统SPMT9000

针对半自动VCSEL封装体窄脉冲性能测试的要求，柯泰自主研发了本测试系统。通过提供稳定可靠的自动运动平台，结合不同的物料形式以实现封装尺寸产品的测试，可适配各种光电检测组合的测试方案，包括：实现在窄脉冲驱动方式下的LIV测试（电流、电压、光功率时域波形测试），远场性能测试，并实现对产品内部齐纳二极管的电性能测试等功能。

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全自动封装体测试系统SPMT7000

柯泰研发的自动VCSEL封装体光电性能检测系统，采用模块化设计，由蓝膜上料模组、LIV性能测试模组、FF性能测试模组、蓝膜下料模组、驱动及控制软件等构成。该系统具备快速自动综合检测能力，涵盖客户所需要的光电性能检测模块，匹配量产自动化所需要的效率组件和数据管理，实现VCSEL的批量测试，测试速度快、检测精度高、适应性强，适配于各种光电检测组合的测试方案。

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探针座定制

柯泰光芯可提供各类探针座定制，定位精确、扎针稳定，确保测试结果的可靠性，种类包括但不限于：射频探针座、光纤耦合座、直流探针座。

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探卡定制

柯泰光芯提供专业探卡定制服务，覆盖从研发到大规模生产的全流程，具有高精度、高效率及高可靠性等特点。可定制种类包括窄脉冲针卡、CW/QCW针卡以及其他定制针卡。

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模组测试治具定制

根据您芯片的具体情况，柯泰光芯提供适用于TO、COB、COC、COS等不同封装测试的治具。针对芯片或封装后的器件进行可靠性验证，柯泰光芯也可进行老化板封装定制。

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电路及嵌入式设计

低漏电端口切换电路：可程控的端口切换并实现低漏电；多通道光源控制器：可程控的多通道光源控制；触发信号转换器：分路输出触发信号。

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