VCSEL测试解决方案 - 柯泰光芯测试技术 vcsel测试解决方案

量产台

VMP9000 - 窄脉冲晶圆量产测试系统

VMP9000系列VCSEL窄脉冲晶圆量产测试设备，是专为VCSEL激光雷达应用而设计的窄脉冲驱动的晶圆量产测试设备。该系列设备配置了自研驱动，可以在晶圆级提供小于100ns、大于35A的驱动，实现LIV、近场及远场测试能力。VMP9000-A可灵活集成全自动上下料，助力客户在量产中兼顾精度与效率。

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SPMT9000-半自动封装体测试系统

针对半自动VCSEL封装体窄脉冲性能测试的要求，柯泰自主研发了本测试系统。通过提供稳定可靠的自动运动平台，结合不同的物料形式以实现封装尺寸产品的测试，可适配各种光电检测组合的测试方案，包括：实现在窄脉冲驱动方式下的LIV测试（电流、电压、光功率时域波形测试），远场性能测试，并实现对产品内部齐纳二极管的电性能测试等功能。

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VMP3000-手动探针台测试系统

VMP3000系列是柯泰光芯的自研基础型手动探针台系统，其设计兼顾稳定性与灵活性，以适应不同尺寸和类型的芯片在精确定位、振动隔离等工作环境和测试条件的要求，确保您测试结果的准确性与可靠性。VMP3000手动探针台系列支持多种通用和专用测试集成。无论是企业研发阶段的参数分析，还是高校教育研发的测试场景，本系统都能为您提供高性价比的测试保障。

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量产台

VMP7000 - VCSEL晶圆量产测试系统

VMP7000系列VCSEL晶圆量产半自动探针台系统，此测试系统综合统筹了量产所需要的效率、稳定性及数据要求，支持在直流或脉宽≥10us的脉冲工作条件下，完成LIV特性、光谱特性、光学特性(近场与远场)以及反向漏电流等系列测试。在此基础上，柯泰光芯在半自动探针台测试系统中加入了更加适合大批量生产的自动上下料装置，推出了专为大批量生产设计的全自动VCSEL晶圆量产测试系统--VMP7000-A。

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SPT5000 - 手动多站式VCSEL模组性能测试系统

柯泰的多站式VCSEL模组性能测试系统SPT5000是一款高精度测试平台，精准适配实验室环境的性能验证应用场景，在研发、生产、质量控制等环节具有广泛的应用。该系统支持手动加载和操作，能够对VCSEL模组的电学、光学进行全面测试，包括LIV特性、光谱、近场光学特性、远场光学特性等关键参数，可以作为 VCSEL 模组的综合性能评测机构。

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SPMT7000 - 全自动封装体测试系统

柯泰研发的自动VCSEL封装体光电性能检测系统，采用模块化设计，由蓝膜上料模组、LIV性能测试模组、FF性能测试模组、蓝膜下料模组、驱动及控制软件等构成。该系统具备快速自动综合检测能力，涵盖客户所需要的光电性能检测模块，匹配量产自动化所需要的效率组件和数据管理，实现VCSEL的批量测试，测试速度快、检测精度高、适应性强，适配于各种光电检测组合的测试方案。

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VMP5000-手动探针台测试系统

VMP5000系列是柯泰光芯的自研手动探针台系统，其设计兼顾稳定性与灵活性，以适应不同尺寸和类型的芯片在精确定位、温度控制、振动隔离等工作环境和测试条件的要求，确保您测试结果的准确性与可靠性。VMP5000手动探针台系列支持多种通用和专用应用场景，在产品研发阶段为您提供包括高低温、精密控制、软件集成等多项卓越的测试保障。

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VMP8000-高频晶圆量产测试系统

专为高频芯片设计，VMP8000系列支持6吋激光器、探测器和射频器件晶圆测试。凭借高精度测量与高速稳定的性能，本系统拥有兼顾带宽(包括O-E/E-O/E-E)、眼图、RIN等动态参数，与LIV、光谱测量等静态参数的完整测试能力。借助柯泰光芯自研半自动高速探针台的系统能力，VMP8000还适用于量产阶段CP测试等高效率场景。

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APS9000-VCSEL窄脉冲板级测试系统

APS9000是一款专门针对老化板在窄脉冲条件下进行全面性能检测的设备，该系统为半自动三站式测试系统。通过稳定可靠的自动运动平台，该测试系统可以在调校完成后，针对老化驱动板实现自动运行到指定测试位置，从而实现老化窄脉冲LIV测试及光谱测试、窄脉冲近场测试、窄脉冲远场测试。无论是光学性能，还是电学性能，该测试系统均能为您提供准确的性能评估，确保老化板在实际使用中的稳定性与可靠性，帮助您优化产品性能、提高生产效率。

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